壓敏電阻器是我們經(jīng)常使用到的電子元器件之一，可以保護(hù)電路中的因電流過(guò)大而產(chǎn)生的問(wèn)題。如果過(guò)電壓在電路中頻繁出現(xiàn)，也會(huì)導(dǎo)致壓敏電阻器頻繁動(dòng)作以抑制過(guò)電壓幅值和吸收釋放浪涌能量，這樣的頻繁操作的后果必然就是導(dǎo)致壓敏電阻器的性能下降，從而加快老化速度。老化之后壓敏電阻器容易進(jìn)入失效模式，常見(jiàn)壓敏電阻器的失效模式有幾種呢，本文總結(jié)了一些關(guān)于壓敏電阻器常見(jiàn)失效情況。

在壓敏電阻器的應(yīng)用過(guò)程中，當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí)，常見(jiàn)的劣化模式有兩種，一種是開(kāi)路模式，另外一種是短路模式。開(kāi)路模式主要發(fā)生在MOV流過(guò)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí)，通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會(huì)引起燃燒現(xiàn)象。短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過(guò)電壓破壞兩種類型。

首先我們來(lái)看氧化鋅壓敏電阻的老化失效問(wèn)題。這一問(wèn)題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇，此時(shí)漏電流將會(huì)惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn)，導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化，形成一千歐左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會(huì)加速老化過(guò)程，使老化失效提早出現(xiàn)。而壓敏電阻器出現(xiàn)暫態(tài)過(guò)電壓破壞則是一個(gè)短時(shí)間內(nèi)造成器件損壞的情況，所謂的暫態(tài)過(guò)電壓破壞，指的是短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)較強(qiáng)的暫態(tài)過(guò)電壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流而高熱起火，整個(gè)過(guò)程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生。

按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來(lái)看，可以分成三種常見(jiàn)的失效狀態(tài)，即劣化、炸裂和穿孔。當(dāng)表現(xiàn)為劣化狀態(tài)時(shí)，實(shí)物表現(xiàn)為使用萬(wàn)用表測(cè)試壓敏電阻時(shí)出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。當(dāng)表現(xiàn)為炸裂情況時(shí)，則壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，非常明顯。當(dāng)氧化鋅壓敏電阻器表現(xiàn)為穿孔情況時(shí)，則電阻器的陶瓷外層將會(huì)瞬間發(fā)生電擊穿，出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。

壓敏電阻器出現(xiàn)失效模式之后，工程要及時(shí)的更換掉，避免影響電路中的其他電子元器件。電容器的老化是很常見(jiàn)的一個(gè)問(wèn)題，只要我們定期進(jìn)行檢查，以上所說(shuō)的問(wèn)題我們是可以繞開(kāi)的。