適用于調(diào)諧回路、需要補(bǔ)償溫度效應(yīng)的電路中,電容量隨溫度改變呈線性變化等特點(diǎn)。
● 符合RoHS指令
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相信我們經(jīng)常在使用陶瓷電容遇到失效或損壞的,使用時(shí)間不長(zhǎng)到底是什么原因?qū)е碌哪兀磕敲葱【帉⒏蠹襾?lái)探討這個(gè)問(wèn)題。
當(dāng)空氣的濕度變高時(shí),水膜凝結(jié)到電容器的外殼外面,使電容器的表面絕緣電阻降低。另外,對(duì)于半封閉結(jié)構(gòu)的電容器來(lái)說(shuō),水分還可能滲到電容器介質(zhì)的內(nèi)部,使電容器介質(zhì)的絕緣電阻絕緣能力降低。所以,高溫和高潮濕的環(huán)境下對(duì)電容器參數(shù)惡化的影響是非常顯著的。經(jīng)過(guò)烘干潮濕的電容器的電性能可已獲得改善,但是水分子電解后果是無(wú)法根治的。所以,電容器的工作在高溫的條件下,水分子在電場(chǎng)作用下電解為氫離子和氫氧根離子,引起根部產(chǎn)生了電化學(xué)腐蝕。即使烘干了電容器,也不可能使引線復(fù)原了。
半密封的瓷片電容在高濕度和溫度環(huán)境條件下工作時(shí),可能會(huì)發(fā)生擊穿失效的嚴(yán)重問(wèn)題。所發(fā)生的擊穿現(xiàn)象大約可以分為當(dāng)介質(zhì)擊穿時(shí)表面極間飛弧擊穿。介質(zhì)擊穿按發(fā)生時(shí)間又分為早期擊穿與老化擊穿這兩種,早期擊穿暴露了電容中的材料與生產(chǎn)工藝方面存在缺陷,這些缺陷導(dǎo)致瓷片介質(zhì)介的電強(qiáng)度明顯降低,以至于在高濕度環(huán)境的電場(chǎng)作用下,電容器在耐壓試驗(yàn)過(guò)程中或工作初期,就產(chǎn)生了電擊穿。老化擊穿大多屬于電化學(xué)擊穿范疇。由于瓷片電容器的遷移,瓷片電容器的電解老化擊穿已成為相當(dāng)普遍的問(wèn)題。銀遷移的形成了導(dǎo)電樹枝的狀物,使漏電流局部增大,可引起熱擊穿,使電容器斷裂或燒毀。熱擊穿現(xiàn)象多發(fā)生在管形或圓片形的小型瓷介質(zhì)電容器中,因?yàn)閾舸r(shí)局部發(fā)熱嚴(yán)重,較薄的管壁或較小的瓷體容易燒毀或斷裂。
陶瓷電容常規(guī)是使用銀電極,銀離子遷移由此而導(dǎo)致含鈦陶瓷介質(zhì)的老化加快是陶瓷電容器失效的主要因素。有些廠家生產(chǎn)陶瓷電容器已經(jīng)不用銀電極,而換成鎳電極了,在陶瓷片上采用化學(xué)鍍鎳的材料。由于鎳的化學(xué)穩(wěn)定性比銀好,電遷移率低,從而提高了陶瓷電容器的性能和可靠性。
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